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材質:高純金(Au ≥ 99.99%)
尺寸:?51 mm × 厚度 0.1 mm(可定制其他規(guī)格)
適用設備:Shinkuu系列噴金儀(兼容多數(shù)磁控濺射鍍膜系統(tǒng))
主要用途:SEM樣品導電鍍層、EBSD分析增強、光學反射膜制備等。
項目 | 技術指標 |
---|---|
純度 | ≥99.99%(4N級,ICP-MS認證) |
密度 | 19.32 g/cm3(理論值) |
晶粒尺寸 | ≤100 nm(XRD分析) |
表面粗糙度 (Ra) | ≤0.2 μm(AFM測試) |
電阻率 | ≤2.2 μΩ·cm(4點探針法) |
濺射速率 | 80-120 ?/min(DC 30W, Ar 15sccm) |
推薦工作氣壓 | 0.5-3 Pa(高純Ar環(huán)境) |
? 超高純度:極低雜質含量(Fe、Cu等<10ppm),確保鍍膜無污染。
? 超薄設計:0.1mm厚度優(yōu)化濺射效率,減少熱應力導致的靶材變形。
? 均勻成膜:磁控濺射后膜厚偏差≤±5%(旋轉樣品臺條件下)。
? 長壽命:典型使用壽命≥6小時(30W DC濺射條件)。
? 兼容性廣:適用于SEM、FIB-SEM、TEM樣品制備及XRF校準。
推薦膜厚:5-15 nm
效果:消除荷電效應,提升二次電子信號3-5倍。
推薦膜厚:3-8 nm
效果:減少背景噪聲,提高衍射信號信噪比。
推薦膜厚:50-200 nm
效果:可見光區(qū)反射率≥95%(λ=550 nm)。
安裝:使用無塵手套操作,確保靶材與陰極接觸良好。
存儲:干燥氮氣柜(RH<30%),避免氧化。
壽命終點判斷:
濺射速率下降>20%
鍍膜出現(xiàn)明顯不均勻或雜質
廢棄處理:按貴金屬廢料回收(不可隨意丟棄)。
批次檢測報告:提供XRD晶相分析、ICP-MS成分檢測、AFM表面形貌數(shù)據(jù)。
兼容標準:符合ISO 9001、ASTM F76等國際規(guī)范。
? 真空要求:本底真空≤5×10?3 Pa,避免殘留氣體污染。
? 避免過熱:連續(xù)濺射時建議間歇冷卻,防止靶材熱裂。
? 安全防護:濺射過程中避免直接觀察等離子體,佩戴防護眼鏡。